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最新专利技术
  • 一种基于分布式光纤测温传感器的电缆局放监测方法
    一种基于分布式光纤测温传感器的电缆局放监测方法_安徽托卡智能科技有限公司_202610028072.X
    本发明公开了一种基于分布式光纤测温传感器的电缆局放监测方法，属于电力电缆在线监测技术领域，所述方法包括：沿电缆敷设分布式光纤温度传感器以获取温度测量值Ti；定义具有相同敷设方式和环境的电缆段ΔL并计算其平均温度T；计算各测量点的相对温升比值...
    2026-05-02
  • 一种电梯电气配电系统模拟测试装置
    一种电梯电气配电系统模拟测试装置_浙江锦通电梯有限公司_202610045844.0
    本发明涉及电气测试技术领域，具体为一种电梯电气配电系统模拟测试装置，包括测试台、测试单元、调节单元、动力单元及推力单元，测试单元对称设置于测试台顶部，用于电梯电气配电系统模拟测试，调节单元固定设置于测试台底部，用于推动测试单元沿着测试台长度...
    2026-05-02
  • 一种变压器热风险预测方法、装置、设备及存储介质
    一种变压器热风险预测方法、装置、设备及存储介质_南方电网科学研究院有限责任公司_202610073088.2
    本申请涉及电力系统技术领域，并提供一种变压器热风险预测方法、装置、设备及存储介质，所述方法包括：获取变压器内部的状态参量；状态参量包括变压器内部绝缘纸的水分含量和变压器内部的传感器温度；将绝缘纸的水分含量和传感器温度输入预设气泡起始温度输出...
    2026-05-02
  • 基于紫外光谱的气体放电检测方法、系统、设备及介质
    基于紫外光谱的气体放电检测方法、系统、设备及介质_国网河北省电力有限公司超高压分公司_202610238563.7
    本申请涉及基于紫外光谱的气体放电检测方法、系统、设备及介质。所述方法包括：通过向待测气室发射频率调制的紫外光束，同步采集并分路处理透射光信号，同时获得用于气体吸收分析的调制光谱信号和用于探测放电事件的离散光子脉冲信号；分别对两路信号进行处理...
    2026-05-02
  • 一种用于无人机的绝缘子带电检测框架系统及工艺
    一种用于无人机的绝缘子带电检测框架系统及工艺_国网新疆电力有限公司电力科学研究院_202610239078.1
    本发明提供了一种新的用于无人机的绝缘子带电检测框架系统及工艺，包括悬吊架，所述悬吊架呈开口向下的U字形，且所述悬吊架相对设置有两个；所述顶连件连接于两个所述悬吊架的顶部，所述顶连件的顶部设置有悬吊环；所述底连件设置有两个，两个所述底连件的两...
    2026-05-02
  • 一种耐压试验工装及其安装方法
    一种耐压试验工装及其安装方法_上海平高天灵开关有限公司_202610265300.5
    本发明公开了一种耐压试验工装，其特征在于，将所述导杆以及所述连接头结构安装在所述绝缘体内，通过所述锥形面连接C型套管的环氧锥面，使得使连接头结构的第一球面凹槽以及第二球面凹槽与所述C型套管的导电杆球面契合。本发明的结构的导电部分与绝缘部分分...
    2026-05-02
  • 异常检测方法、装置、计算机设备和存储介质
    异常检测方法、装置、计算机设备和存储介质_深圳供电局有限公司_202610309704.X
    本申请涉及一种异常检测方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取局部放电信号；对局部放电信号进行特征提取，得到局部放电信号的特征数据；其中，特征数据包括以下至少一种，局部放电信号在时域、频域和时频域中的特征参数；将...
    2026-05-02
  • 一种双展开升降式特高压交流耐压试验车及其使用方法
    一种双展开升降式特高压交流耐压试验车及其使用方法_湖南湘能智能电器股份有限公司_202610381849.0
    本发明提供一种双展开升降式特高压交流耐压试验车及其使用方法，该试验车包括高压试验单元、承载单元及安装在承载单元上的双展开升降车厢与固定车厢；高压试验单元顶端安装有金属均压环，其外侧安装有充气均压环，其内侧固定安装有高压无晕导线；双展开升降车...
    2026-05-02
  • 用于空间电荷测量的气隙缺陷厚度调控装置及调控方法
    用于空间电荷测量的气隙缺陷厚度调控装置及调控方法_国网上海市电力公司_202610385362.X
    用于空间电荷测量的气隙缺陷厚度调控装置及其调控方法，包括铝电极，所述铝电极下方设置有压电传感器，所述铝电极上方设置有待测试样下片，铝电极和待测试样下片的上方架空设有刚性隔板，所述刚性隔板开设有贯通的测试孔，且上方覆盖有待测试样上片；所述待测...
    2026-05-02
  • 一种GaN二极管检测装置及方法
    一种GaN二极管检测装置及方法_莆田学院_202311816285.1
    本发明公开了一种GaN二极管检测装置及方法，涉及二极管检测领域，包括底座，所述底座的上表面左侧与支脚的底端固定连接，所述支脚的上端与机架的底面固定连接。本发明通过设置输送机构、驱动机构与机架连接，并且在输送机构上设置有多个储料机构，在使用本...
    2026-05-02
  • 在半导体产品的测试中为单独的半导体产品提供温度控制空间的温度控制装置和温度控制系统
    在半导体产品的测试中为单独的半导体产品提供温度控制空间的温度控制装置和温度控制系统_阿特科株式会社_202510869828.9
    根据本公开的一个实施例提供了一种温度控制系统，用于在半导体产品的测试中为单独的半导体产品提供温度控制空间，温度控制系统包括：插入部，插入部被配置为将半导体产品装载到具有敞开的一个表面的容纳空间中；测试托盘，测试托盘上装载有多个插入部；测试器...
    2026-05-02
  • 一种功率器件的可靠性测试系统及测试方法
    一种功率器件的可靠性测试系统及测试方法_深圳英飞源技术有限公司_202511888227.9
    本发明公开了一种功率器件的可靠性测试系统及测试方法，测试系统包括测试电路，测试电路包括第一电源、第二电源、第一开关、限流电阻、第二开关及采样电阻，通过第一电源、第二电源与第一开关、第二开关配合限流电阻、采样电阻构建可在TDDB与Vth两种测...
    2026-05-02
  • 一种半导体器件的测试装置
    一种半导体器件的测试装置_杭州中安电子股份有限公司_202610083692.3
    一种半导体器件的测试装置，涉及半导体器件测试设备技术领域，用于器件的无功老化测试，包括承载器件的托盘载板、机壳组件和测试机芯, 所述机壳组件包括机架及其上的壳板，位于前侧的壳板上开设有操作口，操作口下方设置有带操作按钮的操作台面，操作口内的...
    2026-05-02
  • 基于寄生二极管温敏特性的MOS器件工作温度测量方法
    基于寄生二极管温敏特性的MOS器件工作温度测量方法_北京工业大学_202610179096.5
    本发明提供了一种基于寄生二极管温敏特性的MOS器件工作温度测量方法，属于半导体器件热特性测量技术领域，该方法包括：将恒流源接入待测MOS器件的源极，通过调节恒温平台温度并测量源漏间的压降，得到温度系数；设置预设温度，得到固定压降，对待测MO...
    2026-05-02
  • 适用于INPC拓扑的IGBT硬开关损耗无电流传感器测量方法
    适用于INPC拓扑的IGBT硬开关损耗无电流传感器测量方法_湖南大学_202610364465.8
    本发明提供了一种适用于INPC拓扑的IGBT硬开关损耗无电流传感器测量方法，从功率器件硬开关过程的物理机理出发，对IGBT在INPC拓扑中的换流过程进行了系统分析，重点研究了IGBT的开关特性。在此基础上，明确了电压波形特性与电流变化及开关...
    2026-05-02
  • 一种测试装置
    一种测试装置_中车株洲电力机车研究所有限公司_202411482846.3
    本公开涉及一种测试装置，包括：探头结构，探头结构上设置有第一探针和第二探针，第一探针用于与第一测试点接触，第二探针用于与第二测试点接触，第一探针与第二探针均呈可伸缩的直线结构，第一探针与第二探针在探头结构上呈相互靠近的倾斜状设置；控制中心，...
    2026-05-02
  • 辅助测试电路、控制方法及相关设备
    辅助测试电路、控制方法及相关设备_海光信息技术股份有限公司_202411488389.9
    本发明实施例提供一种辅助测试电路、控制方法及相关设备，设置于从芯粒，所述辅助测试电路包括：第一测试管脚，用于输入外部设备提供的第一参考时钟信号；第一互连接口，用于输入主芯粒提供的第二参考时钟信号；第一信号选择器，所述第一信号选择器的输入端分...
    2026-05-02
  • 一种新型的ECG滤波电路检测装置及方法
    一种新型的ECG滤波电路检测装置及方法_广西水利电力职业技术学院_202511874487.0
    本发明公开了一种新型的ECG滤波电路检测装置及方法，涉及电路检测技术领域，解决了现有技术中缺乏面向产线级自动化测试的频域特性快速提取能力，导致检测效率与生产节拍严重不匹配的问题。本发明的信号发生器在控制器统一下生成扫频激励，经射频放大模块驱...
    2026-05-02
  • 用于晶圆级硅光芯片测试的测试芯片及芯片封装结构
    用于晶圆级硅光芯片测试的测试芯片及芯片封装结构_国科光芯金杏(北京)实验室科技有限公司_202512008986.8
    本发明涉及硅光技术领域，公开了用于晶圆级硅光芯片测试的测试芯片及芯片封装结构。测试芯片包括芯片本体、形成于芯片本体上的光输入结构和光输出结构，光输入结构中，光输入端将入射光耦合到测试芯片，调制单元包括多级设置的多个光开关，分别调控进入不同第...
    2026-05-02
  • 一种基于分时复用原则的芯片欧姆测试方法
    一种基于分时复用原则的芯片欧姆测试方法_杭州晶通科技有限公司_202610080322.4
    本发明公开了一种基于分时复用原则的芯片欧姆测试方法，将芯片安装在芯片卡槽内，将芯片的pin点一一对应连通至芯片卡槽内pin点；将芯片卡槽上pin点以1比2的比例连通至母板上pin点；对母板进行分区，任意分区内pin点通过矩阵开关在不同时间段...
    2026-05-02
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