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温度开关准确性检测系统
本发明公开了一种温度开关准确性检测系统,检测台顶面中部设有用于检测温度开关的控温槽,检测台上方固定有横梁,检测台顶面前侧设有用于装夹温度开关的检测工装夹,检测工装夹设有温度开关的检测传感器,横梁前侧端面、位于检测工装夹正上方位置处还上下活动...
用于在集成电路测试系统中逻辑单元的电学表征技术
逻辑单元的电学表征技术。系统可以包括多个探针、控制电路、偏置电路和机器可读存储介质,所述机器可读存储介质存储指令,所述指令在由机器执行时使机器执行操作,包括将探针放置在包括多个电耦合晶体管的集成电路的表面上,所述逻辑单元已与集成电路的一个或...
一种智能设备对时间漂移的稳态测量方法及系统
本发明提供了一种智能设备对时间漂移的稳态测量方法及系统,运用于数据处理领域;本发明在智能设备初始化阶段建立辅助时间观测源,并通过环境周期信号、人体生理周期信号及设备内部硬件计数信号构建多源时间参考体系,在检测到稳定周期参考信号后,根据不同信...
光学相控阵芯片自动化测试表征系统及方法
本发明公开了一种光学相控阵芯片自动化测试表征系统及方法,属于装备测试领域,该方法包括:针对测试表征系统进行状态初始化校准,确保系统处于良好校准状态;获取用户输入的测试表征参数;根据用户输入的测试表征参数确定测试流程,开展自动化测试表征;对测...
一种双模单引脚供电通信复用接口电路及测试方法
本发明公开了一种双模单引脚供电通信复用接口电路及测试方法,电路包括:主控模块,用于输出第一控制信号、第二控制信号、编码信号、使能信号和封装选择信号;可编程引脚驱动电路,用于根据第一控制信号生成第一可调电压信号并输出至待测芯片,根据第二控制信...
射频芯片全平台ATE解决方法
本发明涉及芯片测试技术领域,揭露了射频芯片全平台ATE解决方法,所述方法包括:对目标射频芯片的原始测试需求数据进行需求解析,得到结构化测试需求特征;将测试需求特征与预设的硬件资源库进行映射匹配,得到目标资源描述数据对结构化测试需求特征进行格...
一种用于电子线路板驱动电路故障检测方法及系统
本发明公开了一种用于电子线路板驱动电路故障检测方法及系统,涉及电子工程技术领域。该用于电子线路板驱动电路故障检测方法,通过依次向电子线路板驱动电路注入阻抗谱扫描、开关应力脉冲和动态响应测试信号,采集响应信号并分析电路的阻抗特性、谐振模态和动...
一种板卡测试工装电路板
本发明公开一种板卡测试工装电路板,涉及板卡测试技术领域,该板卡测试工装电路板包括:第一处理器电路、第二处理器电路、FPGA电路、测试电路;第一处理器电路分别与第二处理器电路和FPGA电路相连,测试电路与FPGA电路相连,被测板卡分别与测试电...
故障检测方法、装置、电子设备及可读存储介质
本发明实施例提供了一种故障检测方法、装置、电子设备及可读存储介质。方法包括:针对待检测故障电路对应的模拟电路,将任一待检测故障作为目标故障,并将目标故障添加至待选故障中,获取模拟电路在待选故障下各采集点对应的电路数据,作为第一数据;将第一数...
一种用于键盘接线端检测的机械手
本申请提供了一种用于键盘接线端检测的机械手。本申请通过第一直线模组和驱动结构能够驱动第一气动夹爪和第二气动夹爪移动,进而驱动第一金手指连接座和第二金手指连接座与对应的FPC金手指连接,实现了检测过程的自动化,减少人工手动操作,能够在短时间内...
一种集成电路运行状态在线检测系统及方法
本发明涉及集成电路运行状态在线检测与分析领域,且公开了一种集成电路运行状态在线检测系统及方法,包括在芯片内部的多个功能子结构层面获取电流、电压及温度参数,形成多通道原始信号流,并构建局部负载动态映射关系;在局部负载动态映射关系约束下,对多通...
一种新型的芯片PAD金属层去层方法
本发明涉及半导体加工技术领域,尤其是指一种新型的芯片PAD金属层去层方法,其包括以下工艺步骤:S1:配置芯片PAD顶层金属腐蚀溶液;S2:将溶液加热,将样品芯片完全浸入,恒温浸泡去除芯片PAD的顶层金属;S3:将溶液加热,将样品芯片完全浸入...
一种基于磁场旋度成像的光伏组件内部电路完整性检测方法及系统
本发明属于光伏组件无损检测技术领域,具体涉及一种基于磁场旋度成像的光伏组件内部电路完整性检测方法及系统,包括采集光伏组件的离散三维磁场数据;对离散三维磁场数据进行空间插值,构建具备二阶导数连续性的高密度磁场矢量网格;基于麦克斯韦‑安培定律的...
电路板测试装置、系统及其测试控制方法
本发明公开了一种电路板测试装置、系统及其测试控制方法,装置包括FPGA控制器通过通信模块接收外部DSP控制器的控制指令,并在控制指令的控制下,向信号采集模块下发第一控制信号;信号采集模块根据接收到的第一控制信号,通过电连接的探针阵列采集待测...
一种模块化老炼测试装置
本发明公开了一种模块化老炼测试装置,包括自上而下堆叠设置的高频子板、低频母板以及功分母板;高频子板设置有多个,且在高频子板上设置有与低频母板相连接的低频信号连接部件一;低频母板上设置有多个与低频信号连接部件一相适配的低频信号连接部件二,低频...
一种用于板级产品的随行防护与测试转接一体化装置
本发明涉及一种用于板级产品的随行防护与测试转接一体化装置,包括:一个防护框架,用于承托和固定电路板;一个转接连接器模块,固定于所述防护框架上,用于将所述电路板的自带连接器信号转换为标准化对外接口;一个信号转接板,固定于所述防护框架内,位于电...
用于堆叠芯片测试的基板、系统及方法
本发明公开了一种用于堆叠芯片测试的基板、系统及方法。所述基板包括具有裸芯片设置区域的基板本体、环绕设置的多个独立焊盘单元以及连接单元。其核心在于:焊盘单元的数量被预设为不少于待测芯片的最大堆叠层数,且连接单元的接口连接点通过基板内部走线与不...
芯片、芯片测试方法、电子设备以及存储介质
本发明实施例提供了一种芯片、芯片测试方法、电子设备以及存储介质,芯片包含向量生成模块、测试扫描链以及待测模块;向量生成模块包括一个第一选择器以及多个寄存器;第一选择器以及多个寄存器依次串行连接形成传输链,第一选择器包含第一输入端以及第二输入...
直接在使用电路中测试漏电保护器方法及其测试仪器
本发明公开了一种直接在使用电路中测试漏电保护器方法及其测试仪器,本发明提供的方法操作简单、易于实现,直接通过测试仪器的第一、第二测试端(如测试笔)与被测电路的火线、地线连接,然后通过模拟测试模块将负载元件接入被测电路,产生模拟漏电电流对漏电...
一种联锁板卡测试平台
本发明涉及一种联锁板卡测试平台,包括:计算机、电源板、母板与逻辑机笼;所述逻辑机笼内部设置有与母板,所述母板的一侧设置有电源板以及多种逻辑单元板卡,母板与逻辑单元板卡相对的一侧设置有后插板;所述电源板通过母板给各个逻辑单元板卡供电;所述计算...
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