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最新专利技术
  • 芯片、芯片测试方法、电子设备以及存储介质
    芯片、芯片测试方法、电子设备以及存储介质_龙芯中科技术股份有限公司_202511939082.0
    本发明实施例提供了一种芯片、芯片测试方法、电子设备以及存储介质，芯片包含向量生成模块、测试扫描链以及待测模块；向量生成模块包括一个第一选择器以及多个寄存器；第一选择器以及多个寄存器依次串行连接形成传输链，第一选择器包含第一输入端以及第二输入...
    2026-05-10
  • 直接在使用电路中测试漏电保护器方法及其测试仪器
    直接在使用电路中测试漏电保护器方法及其测试仪器_东莞燊沙电子有限公司_202511809749.5
    本发明公开了一种直接在使用电路中测试漏电保护器方法及其测试仪器，本发明提供的方法操作简单、易于实现，直接通过测试仪器的第一、第二测试端(如测试笔)与被测电路的火线、地线连接，然后通过模拟测试模块将负载元件接入被测电路，产生模拟漏电电流对漏电...
    2026-05-10
  • 一种联锁板卡测试平台
    一种联锁板卡测试平台_上海铁路通信有限公司_202511778702.7
    本发明涉及一种联锁板卡测试平台，包括：计算机、电源板、母板与逻辑机笼；所述逻辑机笼内部设置有与母板，所述母板的一侧设置有电源板以及多种逻辑单元板卡，母板与逻辑单元板卡相对的一侧设置有后插板；所述电源板通过母板给各个逻辑单元板卡供电；所述计算...
    2026-05-10
  • 一种用于软启动电路的故障检测装置
    一种用于软启动电路的故障检测装置_宁波恒力达科技有限公司_202511739131.6
    本发明具体涉及一种用于软启动电路的故障检测装置。装置包括控制电路模块和软启动故障诊断模块；控制电路模块与开关部的控制端电连接；软启动故障诊断模块包括前级电压检测单元、后级电压检测单元和计时判断单元；前级电压检测单元与电源输入端连接；后级电压...
    2026-05-10
  • 检查显示装置的方法以及电子装置
    检查显示装置的方法以及电子装置_三星显示有限公司_202511557371.4
    提供了检查显示装置的方法以及电子装置。该方法包括：对于不同的帧，将不同的电压供应到像素的驱动晶体管的栅电极；以及在允许像素的连接在数据线与驱动晶体管的第一电极之间的开关晶体管在每一帧的部分时段期间被导通的同时测量流过驱动晶体管的电流的量，其...
    2026-05-10
  • 一种印制电路板上元器件虚焊的失效定位方法
    一种印制电路板上元器件虚焊的失效定位方法_北京振兴计量测试研究所_202411538762.7
    本发明涉及一种印制电路板上元器件虚焊的失效定位方法，属于板级产品的失效分析技术领域，用以解决现有失效分析方法耗时、准确性低的问题。包括对印制电路板及其上元器件进行外观检查、电性能测试，确认失效；对各个元器件进行单独测试，确认疑似失效器件；对...
    2026-05-10
  • 一种板卡测试工装、测试系统及测试方法
    一种板卡测试工装、测试系统及测试方法_科大国盾量子技术股份有限公司_202411531992.0
    本发明提供一种板卡测试工装，包括若干个矩阵开关，若干个矩阵开关分为至少三层，第一层为多个多进一出的矩阵开关组成的矩阵开关阵列，第二层为多进一出矩阵开关，第三层为一进多出矩阵开关，第一层的每个多进一出的矩阵开关的公共端分别连接到第二层矩阵开关...
    2026-05-10
  • 具备叠料防止功能的集成电路测试机台及集成电路测试系统
    具备叠料防止功能的集成电路测试机台及集成电路测试系统_致茂电子(苏州)有限公司_202411529985.7
    本申请公开了一种具备叠料防止功能的集成电路测试机台及测试系统，其中，集成电路测试机台包含测试头及主机。集成电路测试机台用于与分类机协同工作。测试头用于供分类机置放受测物，以及供分类机取回受测物。主机用于通过测试头对受测物执行测试程序，并提供...
    2026-05-10
  • 一种电子板卡质量检测系统、装置及电子卡板生产系统
    一种电子板卡质量检测系统、装置及电子卡板生产系统_中车株洲电力机车研究所有限公司_202411522678.6
    本发明提供一种电子板卡质量检测系统、装置及电子板卡生产系统，该电子板卡质量检测系统，通过设备驱动模块获取或响应于用户的检测请求，建立测试设备和待测电子板卡之间建立连接，并发送测试指令，参数采集模块基于测试指令采集质量特征参数，最后通过质量检...
    2026-05-10
  • 一种电力电子电路故障自动诊断器
    一种电力电子电路故障自动诊断器_四川职业技术学院_202311721714.7
    本发明公开了一种电力电子电路故障自动诊断器，其结构包括，检测主体、控制面板、顶盖、检测口，检测主体的底部有支撑脚进行支撑，控制面板设置在检测主体的前端顶部，顶盖安装在检测主体的顶部，检测口位于检测主体的前端正中间位置，检测主体包括送料装置、...
    2026-05-10
  • 结温整体光学温度计
    结温整体光学温度计_福特全球技术公司_202511466868.5
    本公开提供了“结温整体光学温度计”。本公开涉及一种具有集成光机温度感测系统的硅基功率装置。在一些示例中，该装置包括硅管芯，其中光子晶体腔、光电二极管和光电探测器整体嵌入该硅管芯中。定位在光子晶体腔的端部处的光电二极管发射光子，而光电探测器探...
    2026-05-10
  • 一种功率器件晶圆级动静态参数测试系统及测试方法
    一种功率器件晶圆级动静态参数测试系统及测试方法_佛山市联动科技股份有限公司_202610434583.1
    本发明涉及功率半导体晶圆测试技术领域，公开了一种功率器件晶圆级动静态参数测试系统及测试方法，所述系统包括：动态测试设备，与切换装置电连接，静态测试设备，与切换装置电连接，测试座，与切换装置电连接，晶圆固定盘，经静态切换开关电连接所述静态测试...
    2026-05-10
  • 一种GaN基多功能光电器件的感光与记忆功能检测系统、方法及应用
    一种GaN基多功能光电器件的感光与记忆功能检测系统、方法及应用_天津工业大学_202610432532.5
    本发明属于半导体光电子技术技术领域，公开了一种GaN基多功能光电器件的感光与记忆功能检测系统、方法及应用。所述系统包括测试电路、下位机和上位机，测试电路、下位机、上位机依次相连接设置，测试电路包括切换电路、记忆模式电路和探测模式电路，记忆模...
    2026-05-10
  • 一种核壳结构无结晶体管的迁移率分离方法和装置
    一种核壳结构无结晶体管的迁移率分离方法和装置_广东省大湾区集成电路与系统应用研究院_202610427652.6
    本申请提供一种核壳结构无结晶体管的迁移率分离方法和装置，获取漏极电流‑栅极电压的第一关系曲线，以及栅极沟道电容‑栅极电压的第二关系曲线，基于第二关系曲线，确定核壳结构无结晶体管中核层处于平带时的第一栅极电压，在第一关系曲线中，将栅极电压为第...
    2026-05-10
  • 一种功率半导体晶圆电参数测试系统及测试方法
    一种功率半导体晶圆电参数测试系统及测试方法_佛山市联动科技股份有限公司_202610426980.4
    本发明涉及功率半导体晶圆测试技术领域，公开了一种功率半导体晶圆电参数测试系统及测试方法，所述系统包括：动态测试设备与晶圆承载装置电连接，静态测试设备与晶圆承载装置电连接，晶圆承载装置电连接切换装置，切换装置分别电连接所述静态测试设备和动态测...
    2026-05-10
  • 用于IGBT的极间电容测量系统及其标定与解算方法
    用于IGBT的极间电容测量系统及其标定与解算方法_义乌工商职业技术学院_202610303033.6
    本申请涉及电力电子器件测试技术领域，特别涉及一种用于IGBT的极间电容测量系统及其标定与解算方法，其中，测量系统集成了测量‑标定一体化夹具，该夹具内置标准负载，可通过模式切换开关，在测量前对整个测量通道进行阻抗误差标定。基于此，方法建立了一...
    2026-05-10
  • 氮化镓器件快速检测电路和快速检测方法
    氮化镓器件快速检测电路和快速检测方法_苏州明源创半导体有限公司_202610292240.6
    本发明公开了一种氮化镓器件快速检测方法，包括抽样、提取动态导通特性(先冷藏再快速变温)、测量栅漏电和漏源漏电(正向、反向)、ESD、振动。还公开了动态导通特性的检测电路和检测方法。本发明运用二极管隔离和稳压管钳位，实现了跟踪测量点导通压降的...
    2026-05-10
  • 一种晶体管单次雪崩降额特性曲线的绘制方法及绘制装置
    一种晶体管单次雪崩降额特性曲线的绘制方法及绘制装置_重庆平伟实业股份有限公司_202610200243.2
    本发明提供一种晶体管单次雪崩降额特性曲线的绘制方法及绘制装置，包括：获取多组测试数据，根据测试数据生成驱动参数，以驱动包括被测晶体管的测试电路，获取被测晶体管处于雪崩状态下的雪崩时段波形，将雪崩时段波形进行波形等效处理，得到当前雪崩时间；根...
    2026-05-10
  • 大功率分立器件在线参数测试系统、方法及存储介质
    大功率分立器件在线参数测试系统、方法及存储介质_天津普智芯网络测控技术有限公司_202610200151.4
    本发明公开了大功率分立器件在线参数测试系统、方法及存储介质，包括上位机以及与所述上位机通信连接的测试电路单元、数据采集单元和FPGA单元，所述测试电路单元用于连接待测试的大功率分立器件，在所述大功率分立器件的高压区和低压区之间设置有隔离开槽...
    2026-05-10
  • 一种有机半导体有效电荷迁移率的测试与分析方法
    一种有机半导体有效电荷迁移率的测试与分析方法_香港中文大学(深圳)_202610142777.4
    本发明公开了一种有机半导体有效电荷迁移率的测试与分析方法，包括：对待测有机光电器件进行多光强稳态电流‑电压测试，获取填充因子及开路电压。依据开路电压随光强的变化规律，区分不同光强区间主导的复合机制。针对各机制在最大功率点处构建伪一阶复合速率...
    2026-05-10
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