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龙图腾网获悉西安电子科技大学申请的专利高精度ADC的静态特性内建自测试电路获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118316449B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410467822.4，技术领域涉及：H03M1/10；该发明授权高精度ADC的静态特性内建自测试电路是由朱樟明;黄一耀;张延博;付国龙;刘术彬设计研发完成，并于2024-04-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本高精度ADC的静态特性内建自测试电路在说明书摘要公布了：本发明提供的高精度ADC的静态特性内建自测试电路，包括：在采样保持阶段，对输入的外部共模信号Vcm作采样得到采样共模信号；在第一次量化阶段，根据正输入端信号Vip对采样共模信号作采样放大处理，并降低输出阻抗得到第一放大共模信号；在第二量化阶段，根据负输入端信号Vin对采样共模信号作采样放大处理，并降低输出阻抗得到第二放大共模信号；其中，正输入端信号Vip与负输入端信号Vin是一对差分信号；对第一放大共模信号和第二放大共模信号均作量化，并对两者的量化结果求平均得到高精度测试信号。在本发明中，根据一对差分信号对采样共模信号作量化处理，并将两次量化的结果进行求和处理，消除了采样热噪声。

本发明授权高精度ADC的静态特性内建自测试电路在权利要求书中公布了：1.一种高精度ADC的静态特性内建自测试电路，其特征在于，包括： 在采样保持阶段，对输入的外部共模信号Vcm作采样得到采样共模信号； 在第一次量化阶段，根据正输入端信号Vip对所述采样共模信号作采样放大处理，并降低输出阻抗得到第一放大共模信号； 在第二量化阶段，根据负输入端信号Vin对所述采样共模信号作采样放大处理，并降低输出阻抗得到第二放大共模信号；其中，所述正输入端信号Vip与所述负输入端信号Vin是一对差分信号；对所述第一放大共模信号和所述第二放大共模信号均作量化，并对两者的量化结果求和得到高精度测试信号； 所述静态特性内建自测试电路包括：噪声消除电路、运算放大电路、负电容电路、负载电路、时钟信号产生模块以及信号重分配模块； 所述时钟信号产生模块用于所述静态特性内建自测试电路的周期性量化控制； 所述噪声消除电路用于对采样电容进行电压复位处理，并在所述采样电容电压复位情况下对所述外部共模信号Vcm进行周期性采样获取采样共模信号；在周期性量化控制下将所述采样共模信号分别与外部全差分正弦信号求差，获取压差信号； 所述负电容电路用于所述运算放大电路的增益补偿； 所述运算放大电路用于在增益补偿作用下，对所述压差信号进行信号放大处理，得到放大全差分信号； 所述信号重分配模块用于将所述放大全差分信号分配为子放大全差分信号，并将所述子放大全差分信号输入所述负载电路中的支路； 所述负载电路用于对所述子放大全差分信号进行噪声消除，并在每一支路中对每个周期内的子放大共模信号进行采样平均处理，再将多个支路中采样平均处理后的子放大共模信号进行求和，得到高精度测试信号；其中，所述负载电路通过控制接入的带宽大小，对所述子放大全差分信号进行噪声消除。

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