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龙图腾网获悉杭州至千哩科技有限公司申请的专利半导体测试设备的数字I/O通道校准方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116755010B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210211348.X，技术领域涉及：G01R35/00；该发明授权半导体测试设备的数字I/O通道校准方法是由王丛设计研发完成，并于2022-03-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本半导体测试设备的数字I/O通道校准方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种半导体测试设备的数字IO通道校准方法，步骤包括：S1，将半导体测试设备的数字IO通道按照至少3个为一组进行分组，然后利用第一校准板测试并求解每个分组内的各数字IO通道间的信号收发延时；S2，以错“1”方式对各数字IO通道进行重新分组，然后利用第二校准板测试并求解重新分得的每个分组内的各数字IO通道间的信号收发延时；S3，构造每个数字IO通道分别在发送方向和接收方向上的延时计算表达式并求解；S4，以步骤S3求得的延时值作为补偿依据对对应的数字IO通道作延时补偿，从而实现对各数字IO通道的校准对齐。本发明在不增加校准板设计难度和制造成本的前提下，解决了测试设备的数字IO通道间的信号不同步问题。

本发明授权半导体测试设备的数字I/O通道校准方法在权利要求书中公布了：1.一种半导体测试设备的数字IO通道校准方法，其特征在于，步骤包括： S1，将半导体测试设备的数字IO通道按照至少3个为一组进行分组，然后利用第一校准板测试并求解每个分组内的各所述数字IO通道间的信号收发延时； S2，以错“1”方式对各所述数字IO通道进行重新分组，以在步骤S1分得的组与组之间建立延时计算的联系，然后利用第二校准板测试并求解重新分得的每个分组内的各所述数字IO通道间的信号收发延时； S3，指定任一所述数字IO通道在发送或接收方向上的信号延时为延时计算表达式的共同变量，构造每个所述数字IO通道分别在发送方向和接收方向上的延时计算表达式并求解； S4，以步骤S3求得的延时值作为补偿依据对对应的所述数字IO通道作延时补偿，从而实现对各所述数字IO通道的校准对齐； 利用所述第一校准板或所述第二校准板测试并求解每个分组内的各所述数字IO通道间的信号收发延时的方法通过以下公式1表达： 公式1中，表示同一分组内从数字IO通道发送到数字IO通道的信号接收延时； 表示所述数字IO通道在信号发送方向上的延时； 表示所述数字IO通道在信号接收方向上的延时； 为测试信号从连接器到所述第一校准板或所述第二校准板上PCB走线连接点的延时； 步骤S2中，以错“1”方式对步骤S1分得的各组进行重新分组的方法为： S21，对步骤S1分得的每个分组进行排序； S22，完成分组排序后，对每个分组中的各所述数字IO通道进行排序，形成按序排列的序列； S23，从所述序列中排序第二的所述数字IO通道开始将所述半导体测试设备的各所述数字IO通道重新分为若干组； 步骤S2中，以错“1”方式分得的每组内的每个所述数字IO通道在所述半导体测试设备与所述第二校准板间的布线长度相同。

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