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华南理工大学胡广华获国家专利权

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龙图腾网获悉华南理工大学申请的专利一种金属表面缺陷检测方法、装置和存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116721066B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-05发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310611066.3,技术领域涉及:G06T7/00;该发明授权一种金属表面缺陷检测方法、装置和存储介质是由胡广华;涂千禧;李振东设计研发完成,并于2023-05-26向国家知识产权局提交的专利申请。

一种金属表面缺陷检测方法、装置和存储介质在说明书摘要公布了:本发明公开了一种金属表面缺陷检测方法、装置和存储介质,属于缺陷检测技术领域。方法包括:使用光度立体图像采集装置采集不同照明方向下高光金属标定球的图像,根据采集到的图像和标定公式获取照明方向矩阵;将待测金属放入所述光度立体图像采集装置,依次点亮各个光源,获得不同照明方向下的物体表面图像序列;将所述物体表面图像序列中的多张物体表面图像进行融合,获得融合图像;根据所述物体表面图像序列和照明方向矩阵计算物体表面的散度图;将融合图像和散度图分别输入预设的双支路特征融合网络中,以提取图像的融合特征,并输出最终的缺陷检测结果。本发明通过提高缺陷与背景的对比度和捕获表面的几何形貌信息,提高了缺陷检测能力。

本发明授权一种金属表面缺陷检测方法、装置和存储介质在权利要求书中公布了:1.一种金属表面缺陷检测方法,其特征在于,包括以下步骤: 使用光度立体图像采集装置采集不同照明方向下高光金属标定球的图像,根据采集到的图像和标定公式获取照明方向矩阵;其中,所述光度立体图像采集装置包括多个不同方向的光源; 将待测金属放入所述光度立体图像采集装置,依次点亮各个光源,获得不同照明方向下的物体表面图像序列; 将所述物体表面图像序列中的多张物体表面图像进行融合,获得融合图像; 根据所述物体表面图像序列和照明方向矩阵计算物体表面的散度图; 将融合图像和散度图分别输入预设的双支路特征融合网络中,以提取图像的融合特征,并输出最终的缺陷检测结果; 所述根据所述物体表面图像序列和照明方向矩阵计算物体表面的散度图,包括: 根据所述物体表面图像序列和照明方向矩阵,利用光度立体法、散度公式和曲率公式计算物体表面的散度图和曲率图; 所述光度立体法的计算公式为: 式中,I为图像某个位置的亮度值,L为照明方向矩阵,为物体表面反射率,n为该位置的单位法向量; 将看作整体N,则法向量计算公式为: 。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人华南理工大学,其通讯地址为:510641 广东省广州市天河区五山路381号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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