影诺高新科技(苏州)有限公司哈达获国家专利权
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龙图腾网获悉影诺高新科技(苏州)有限公司申请的专利一种X射线平板探测器时序同步与校正方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116531005B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310555434.7，技术领域涉及：A61B6/58；该发明授权一种X射线平板探测器时序同步与校正方法及系统是由哈达;吕国政设计研发完成，并于2023-05-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种X射线平板探测器时序同步与校正方法及系统在说明书摘要公布了：本发明一种X射线平板探测器时序同步与校正方法及系统，通过平板探测器采集图像；通过时序控制模块一方面给平板探测器的同步接口发出主同步脉冲，控制平板探测器的工作频率；另外一方面，把平板探测器返回的曝光窗口脉冲进行分频；分频后的副同步脉冲给到高压发生器接口控制X射线出束曝光；在上述步骤1中的平板探测器采集到的图像根据时序控制模块控制的脉冲与分频的设置，标记图像的属性；根据设定的策略进行暗场图像多帧平均或者递归平均，生成实时的偏移校正数据。本发明偏移校正数据实时更新，不需要提前生成，极大的简化了其他校正文件的生成方式，解决了应用的实时性与设备图像质量的之间的矛盾，同时还提供了变频采集的解决方案。
本发明授权一种X射线平板探测器时序同步与校正方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种X射线平板探测器时序同步与校正方法，其特征在于： 依次包括以下步骤： 步骤1、通过平板探测器采集图像； 步骤2、通过时序控制模块，一方面给平板探测器的同步接口发出主同步脉冲，控制平板探测器的工作频率；另外一方面，把平板探测器返回的曝光窗口脉冲进行分频；分频后的副同步脉冲给到高压发生器接口控制X射线出束曝光； 步骤3、在上述步骤1中的平板探测器采集到的图像根据时序控制模块控制的脉冲与分频的设置，标记图像的属性； 步骤4、根据设定的策略进行暗场图像多帧平均或者递归平均，生成实时的偏移校正数据； 步骤5、如果处于校正模式，设定平板探测器模式，一次性获取X射线图像和暗场图像，并生成对应的增益校正数据和坏点坏线校正数据； 步骤6、在工作状态下，由于校正文件都已经具备，完成每帧图像的校正。
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