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龙图腾网获悉成都数之联科技股份有限公司申请的专利一种元器件反极缺陷检测方法、系统、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116468680B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310338051.4，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种元器件反极缺陷检测方法、系统、设备及存储介质是由请求不公布姓名;请求不公布姓名;请求不公布姓名设计研发完成，并于2023-03-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种元器件反极缺陷检测方法、系统、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明提供一种元器件反极缺陷检测方法、系统、设备及存储介质，涉及电子元器件缺陷检测技术领域，所述方法包括步骤为：将待检测的元器件图像p1输入引脚筛选模型M，通过所述引脚筛选模型M输出引脚定位框Bbox；对所述引脚定位框Bbox进行像素处理和轮廓提取处理，以获取引脚轮廓图以及引脚端点坐标；基于引脚轮廓图以及引脚端点坐标进行引脚长度、位置计算，并且将引脚长度、位置计算结果与预设信息进行校验，以获取元器件反极缺陷检测结果。本发明基于深度学习和图像处理技术，实现了电容元器件引脚位置、长度检测，解决了现有电容元器件反极缺陷检测存在效率低、准确率低、漏检的问题。

本发明授权一种元器件反极缺陷检测方法、系统、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种元器件反极缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤： 步骤1：将待检测的元器件图像p1输入引脚筛选模型M，通过所述引脚筛选模型M输出引脚定位框Bbox； 步骤2：对所述引脚定位框Bbox进行像素处理和轮廓提取处理，以获取引脚轮廓图以及引脚端点坐标； 对所述引脚定位框Bbox进行像素处理和轮廓提取处理，以获取引脚轮廓图以及引脚端点坐标的流程如下： 步骤2.1：对引脚定位框Bbox进行像素处理和引脚定位处理，并且对引脚定位处理之后的所述引脚定位框Bbox进行轮廓提取处理，以获取引脚轮廓图、第一根引脚的左端点坐标和右端点坐标，第二根引脚的左端点坐标和右端点坐标； 步骤2.2：基于第一根引脚的左端点坐标和右端点坐标构建矩形框B1，并且基于第二根引脚的左端点坐标和右端点坐标构建矩形框B2； 步骤3：基于引脚轮廓图以及引脚端点坐标进行引脚长度、位置计算，并且将引脚长度、位置计算结果与预设信息进行校验，以获取元器件反极缺陷检测结果； 基于引脚轮廓图以及引脚端点坐标进行引脚长度、位置计算，并且将引脚长度、位置计算结果与预设信息进行校验，以获取元器件反极缺陷检测结果的流程如下： 步骤3.1：如果第一根引脚的左端点纵坐标y1大于第二根引脚的左端点纵坐标，则判定第一根引脚位于第二根引脚的上方，反之，则判定第二根引脚位于第一根引脚的上方，以实现引脚位置关系判定； 步骤3.2：基于矩形框B1和矩形框B2计算第一根引脚的引脚长度L1和第二根引脚的引脚长度L2； 步骤3.3：基于引脚位置关系判定结果、第一根引脚的引脚长度L1以及第二根引脚的引脚长度L2进行校验，以获取元器件反极缺陷检测结果； 基于引脚位置关系判定结果、第一根引脚的引脚长度L1以及第二根引脚的引脚长度L2进行校验，以获取元器件反极缺陷检测结果的流程如下： 步骤3.31：如果预设信息为正极位于上方，则当第一根引脚位于第二根引脚的上方，并且第一根引脚的引脚长度L1大于第二根引脚的引脚长度L2时，则判定元器件不存在反极缺陷，反之，则判定元器件存在反极缺陷； 步骤3.31：如果预设信息为正极位于下方，则当第一根引脚位于第二根引脚的下方，并且第一根引脚的引脚长度L1大于第二根引脚的引脚长度L2时，则判定元器件不存在反极缺陷，反之，则判定元器件存在反极缺陷。

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