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龙图腾网获悉杭州大华仪器制造有限公司申请的专利一种光散射法测量物体直径的测试装置及其测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116379942B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310367936.7，技术领域涉及：G01B11/08；该发明授权一种光散射法测量物体直径的测试装置及其测试方法是由王震;方学锋;覃爱民;叶旭;郭英设计研发完成，并于2023-04-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光散射法测量物体直径的测试装置及其测试方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种光散射法测量物体直径的测试装置及其测试方法，其特征是还包括安装在支架上的移动架、滑动安装在移动架上的激光机构、安装在移动架上用于驱动激光机构进行移动的驱动机构、安装在底架上的步进电机、安装在底架上且与步进电机连接的旋转臂以及安装在旋转臂上的光强传感器。该发明采用驱动机构的设置，通过步进电机控制激光光束调节架进行移动并控制每次移动距离一致；在半导体激光器位置发生移动后，反射的光强最强点发生变化，通过光强传感器自动捕捉光强最强点，从而得出准确的入射角和反射角，然后自动根据算法自动计算被测样品圆柱体的直径，从而确保实验的准确性且有助于操作人员操作，降低操作繁琐性。

本发明授权一种光散射法测量物体直径的测试装置及其测试方法在权利要求书中公布了：1.一种光散射法测量物体直径的测试装置的测试方法，其特征在于：所述测试方法如下： 1仪器准备：打开半导体激光器电源，调节半导体激光器电源强度； 2光斑调节：在圆盘中心位置放置圆柱体样品，使激光束射在圆柱体样品表面，通过调节半导体激光器前部聚焦透镜，使当前距离射到圆柱体样品表面的光斑尺寸最小； 3光路调节：将圆柱体样品从圆盘中心位置取下，然后在圆盘中心零刻度位置放上校准镜片，然后通过步进电机二调节激光光束调节架以及半导体激光器的位置使激光束入射到校准镜片，激光束通过校准镜片反射后能回到半导体激光器出光孔中心位置，此时激光束经过圆心；然后取下校准镜片，然后在圆盘中心处放上样品即可观察反射光线返回半导体激光器出光孔中心位置，此时半导体激光器位置为初始位置； 4进行实验：通过步进电机二改变激光光束调节架和半导体激光器位置，使半导体激光器朝一个方向移动，设定半导体激光器位置为b，每次移动间隔为△b；移动间隔调节完成后，控制带有角度编码器的步进电机控制旋转臂进行旋转，当旋转臂上的光强传感器接收到最大光强信号后停止旋转，通过步进电机上的角度编码器自动记录角度位置2α和半导体激光器位置b；然后再次按△b改变位置b后用相同的方法测得每次位置b改变后的散射斑角度位置2α，直至2α为90°； 5计算：设定R为样品半径，b为半导体激光器位置，光束击中目标后反射，设反射角为α，则由样品侧面反射的反射角等于入射角α，依据几何学得出，定义全反射角，得到，通过瞄准距离b的变化量△b和散射角度的变化量△实验数据计算微分散射截面，通过，初步计算R0，测量离散射中心距离r，然后通过，再通过做图，通过线性拟合得出斜率K1和R1； 6然后用迭代方式多次重复上述步骤5的数据处理过程，直至Rn+1与Rn基本一致，即可作为R的数值，从而确定了圆柱体的半径。

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