东南大学张彪获国家专利权
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龙图腾网获悉东南大学申请的专利用于三维弯曲表面的红外测温修正方法、装置及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116337243B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-05发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310202171.1,技术领域涉及:G01J5/80;该发明授权用于三维弯曲表面的红外测温修正方法、装置及系统是由张彪;张天宇;吴嘉雯;李健;许传龙设计研发完成,并于2023-03-06向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于三维弯曲表面的红外测温修正方法、装置及系统在说明书摘要公布了:本发明公开了一种用于三维弯曲表面的红外测温修正方法、装置及系统,其中红外测温修正方法包括:根据测量叶片的表面类型,将叶片表面分为至少两个发射率测量区域;获取叶片表面每一个发射率测量区域在不同温度下的发射率分布;根据红外光源不同入射角度下的投射能量和红外相机在不同探测角度下接收到的反射能量,获得不同表面类型的双向反射分布函数;根据获取的叶片表面每一个发射率测量区域在不同温度下的发射率分布及不同表面类型的双向反射分布函数,得到修正后的测量温度。本发明适用范围宽,修正精度高,可为航空发动机涡轮叶片等处在复杂环境中的弯曲表面的红外测温进行校正,可实现弯曲表面的非接触式、多维、在线测量。
本发明授权用于三维弯曲表面的红外测温修正方法、装置及系统在权利要求书中公布了:1.一种三维弯曲表面的红外测温修正方法,其特征在于,包括: 根据测量叶片的表面类型,将叶片表面分为至少两个发射率测量区域; 获取叶片表面每一个发射率测量区域在不同温度下的发射率分布; 根据红外光源不同入射角度下的投射能量和红外相机在不同探测角度下接收到的反射能量,获得不同表面类型的双向反射分布函数; 根据获取的叶片表面每一个发射率测量区域在不同温度下的发射率分布及不同表面类型的双向反射分布函数,得到修正后的测量温度; 根据获取的叶片表面每一个发射率测量区域在不同温度下的发射率数分布及不同表面类型的双向反射分布函数,得到修正后的测量温度为: 式中,为空间位置处修正后的测量温度;为红外相机的出厂标定曲线;为波长;为红外测量窗口的积分透过率;为高温燃气的影响系数;为红外相机的探测角度;为在发射率测量区域内温度下的发射率数值,为1-Q,Q为划分的发射率测量区域数;、分别为红外相机的波长响应上下限;为真实温度产生的黑体光谱辐射力;为高温背景叶片产生的黑体光谱辐射力;为高温背景叶片上的不同空间位置;为高温背景叶片上的不同空间位置对测量叶片空间位置的角系数,为待测位置可视区域内的微元面积;为待测位置的可视区域;为弯曲表面的双向反射分布函数;表示能量入射方向向量;表示能量出射方向向量。
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