紫光同芯微电子有限公司柴森获国家专利权
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龙图腾网获悉紫光同芯微电子有限公司申请的专利一种纠错码的译码方法、装置、设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116192164B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211741382.4，技术领域涉及：H03M13/15；该发明授权一种纠错码的译码方法、装置、设备及介质是由柴森设计研发完成，并于2022-12-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种纠错码的译码方法、装置、设备及介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种纠错码的译码方法、装置、设备及介质，该方法包括：获取纠错码对应的伽罗华域方程，其中，纠错码总长为预设位数。然后根据伽罗华域方程确定纠错码译码后的多个错误位置对应的目标关系式，该目标关系式是基于韦达定理推导得到的。基于目标关系式以及纠错码的预设位数，确定第一遍历范围，然后在第一遍历范围所包括的取值中，确定第一错误位置。最后基于目标关系式以及第一错误位置，确定第二错误位置。通过本申请实施例所提供的纠错码的译码方法，可以基于伽罗华域方程以及韦达定理的应用，减小确定错误位置的遍历范围，无需遍历所有可能的取值，可以减少译码过程中的计算量，降低复杂度。
本发明授权一种纠错码的译码方法、装置、设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种纠错码的译码方法，其特征在于，所述方法包括： 获取纠错码对应的伽罗华域方程，所述纠错码总长为预设位数； 基于所述伽罗华域方程的生成元确定所述伽罗华域方程的第一系数对应的第一指数，所述第一系数为最高次幂项的系数； 基于所述生成元确定所述伽罗华域方程的第一根对应的第二指数以及所述伽罗华域方程的第二根对应的第三指数； 基于韦达定理确定所述第二指数和所述第三指数的乘积关系式，所述乘积关系式包括所述第一指数； 基于所述乘积关系式确定目标关系式，所述第一根与第一错误位置为倒数关系，所述第二根与第二错误位置为倒数关系； 基于所述目标关系式以及所述预设位数，确定第一遍历范围； 在所述第一遍历范围所包括的取值中，确定第一错误位置； 基于所述目标关系式以及所述第一错误位置，确定第二错误位置。
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