买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉西安电子科技大学申请的专利一种大规模阵列天线的散射场获取与分离的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120046348B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510180634.8，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权一种大规模阵列天线的散射场获取与分离的方法是由张帅;吕宇涵;李悠扬;黄汇阳;马晓龙设计研发完成，并于2025-02-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种大规模阵列天线的散射场获取与分离的方法在说明书摘要公布了：一种大规模阵列天线的散射场获取与分离的方法，其步骤为：获取子阵各单元阵中辐射场，计算出各单元阵中天线模式项散射场；利用方向图乘积法计算的各单元天线模式项散射场与阵中天线模式项解出互耦修正矩阵；利用互耦修正矩阵修正方向图乘积法计算的结构模式项散射场；将各单元天线模式项与结构模式项散射场相加得到阵中散射场；对子阵进行等效构建并相位补偿得到大规模阵列天线各单元散射场；通过场叠加得到大规模阵列天线总散射场及总天线模式项与总结构模式项散射场；本发明引入互耦修正矩阵和子阵理论，避免了直接对大规模阵列天线进行矩阵运算，提高了计算速度，解决了现有技术获取大规模阵列天线散射场时耗费大量计算时间与资源的问题。

本发明授权一种大规模阵列天线的散射场获取与分离的方法在权利要求书中公布了：1.一种大规模阵列天线的散射场获取与分离的方法，其特征在于：具体步骤包括： 步骤1、从行列的待求解大规模阵列天线中，选取相邻的行列作为子阵，采集该子阵各单元的阵中辐射场，其中，、、、均为整数，且，，，为测量空间直角坐标系中的俯仰角，为测量空间直角坐标系中的方位角； 步骤2、利用步骤1中子阵各单元辐射场计算得到子阵各单元的阵中天线模式项散射场； 步骤3、获取单个天线单元的天线模式项散射场与结构模式项散射场；通过方向图乘积法利用单个天线单元的天线模式项散射场计算子阵各单元天线模式项散射场；将步骤2中子阵各单元的阵中天线模式项散射场与方向图乘积法计算的子阵各单元天线模式项散射场联立超定方程： 解出互耦修正矩阵；其中，为子阵列天线单元个数，为采样点的个数； 步骤4、将步骤3得到的互耦修正矩阵与通过方向图乘积法利用单个天线单元的结构模式项散射场计算的子阵各单元结构模式项散射场组成的矩阵相乘，得到子阵各单元的阵中结构模式项散射场； 步骤5、将子阵各单元的阵中天线模式项散射场与结构模式项散射场分别相加得到子阵各单元的阵中散射场： ； 步骤6、将行列的子阵等效构建为行列的大规模阵列天线，获取子阵各单元相对于大规模阵列天线各单元间的位移矢量： 其中，为子阵相对于大规模阵列天线第行单元的行位移矢量，为子阵相对于大规模阵列天线第列单元的列位移矢量，为子阵相对于大规模阵列天线第行第列单元的总位移矢量； 子阵相对于大规模阵列天线第行单元的行位移矢量获取方法为： 6a将子阵的第1行至第行单元等效为列阵列的第1行至第行单元，得到列阵列的第1行至第行的每行位移矢量为 6b将子阵的第行单元等效为行列阵列的第行至第行单元，得到行列的阵列第行至第行的每行位移矢量为，其中为行间距； 6c将子阵的第行至第行单元等效为行列阵列的第行至第行单元，得到行列阵列的第行至第行的每行位移矢量为； 子阵相对于大规模阵列天线第列单元的列位移矢量的获取方法与子阵相对于大规模阵列天线第行单元的行位移矢量相同，仅操作对象变为列； 步骤7、根据步骤6，计算大规模阵列天线第行第列单元的散射场、天线模式项散射场以及结构模式项散射场； 步骤8、根据步骤7，获取大规模阵列天线总散射场、总天线模式项散射场以及总结构模式项散射场。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人西安电子科技大学，其通讯地址为：710071 陕西省西安市雁塔区太白南路2号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。