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龙图腾网获悉上海华岭集成电路技术股份有限公司申请的专利一种生成对于存储器进行测试的测试向量的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116110491B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310062875.3，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权一种生成对于存储器进行测试的测试向量的方法是由李文敬;顾辉;唐靖翔设计研发完成，并于2023-01-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种生成对于存储器进行测试的测试向量的方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种生成对于存储器进行测试的测试向量的方法，其中，所述方法包括生成一表格，所述表格包括以列为表征形式的功能区域和以行为表征形式的循环周期，所述功能区域包括赋值区域、运算变化区域和循环跳转区域，所述赋值区域完成对存储器的不同寄存器的赋值，所述运算变化区域定义当前行表示的不同所述寄存器在执行下一周期时是否需要进行运算变化，所述循环跳转区域定义当前行表示的不同所述寄存器在执行下一周期的位置以及循环次数；以及利用所述表格生成测试向量。本发明采用填表式生成测试向量的方式，整个过程只需在所述表格内填写对应信息即可，操作简单方便，且表格化的测试向量，直观性强，易读性好。

本发明授权一种生成对于存储器进行测试的测试向量的方法在权利要求书中公布了：1.一种生成对于存储器进行测试的测试向量的方法，其特征在于，所述方法包括： 生成一表格，所述表格包括以列为表征形式的功能区域和以行为表征形式的循环周期，每一行与每一列的相交处为一个单元格，所述功能区域包括赋值区域、运算变化区域和循环跳转区域，所述赋值区域内包括的赋值信息完成对存储器的不同寄存器的赋值，所述运算变化区域包含的运算变化信息定义当前行表示的不同所述寄存器在执行下一周期时是否需要进行运算变化，所述循环跳转区域包含的循环跳转信息定义当前行表示的不同所述寄存器在执行下一周期的位置以及循环次数；以及 利用所述表格生成测试向量； 不同所述寄存器包括多个地址寄存器和数据寄存器； 所述运算变化区域包括第一运算变化区域和第二运算变化区域，所述第一运算变化区域包含的第一运算变化信息定义当前行表示的所述地址寄存器在执行下一周期时是否需要进行运算变化，所述第二运算变化区域包含的第二运算变化信息定义当前行表示的所述数据寄存器在执行下一周期时是否需要进行运算变化。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人上海华岭集成电路技术股份有限公司，其通讯地址为：201203 上海市浦东新区郭守敬路351号2号楼；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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