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龙图腾网获悉芯梦达半导体科技(济南)有限公司申请的专利一种智能化存储芯片高低温测试装置及测试调优方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121171313B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511724718.X，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权一种智能化存储芯片高低温测试装置及测试调优方法是由殷和国;周思远;杨濠宇设计研发完成，并于2025-11-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种智能化存储芯片高低温测试装置及测试调优方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种智能化存储芯片高低温测试装置及测试调优方法，涉及存储芯片测试技术领域，该装置包括：测试单元，用于为待测存储芯片构造冷热测试环境；供电单元，用于为各单元提供直流电；管理单元，用于实时检测环境数据并上传至数据采集分析服务器，结合测试指令闭环调控环境数据；激励发生器，用于根据测试指令生成并发送面向待测存储芯片的测试激励，记录测试数据并反馈至数据采集分析服务器；数据采集分析服务器用于根据实时环境数据、测试数据，基于AI模型预判待测存储芯片的故障并优化测试指令参数或存储芯片FTL算法参数，生成动态调控测试指令并下发。本发明可实现对存储芯片在极端温度环境下的精确测试与优化。

本发明授权一种智能化存储芯片高低温测试装置及测试调优方法在权利要求书中公布了：1.一种智能化存储芯片高低温测试装置，其特征在于，包括： 测试单元，用于为待测存储芯片构造冷热测试环境； 供电单元，用于为各单元提供直流电； 管理单元，用于实时检测环境数据并上传至数据采集分析服务器，同时结合测试指令闭环调控环境数据； 激励发生器，用于根据测试指令生成并发送面向待测存储芯片的测试激励，记录测试数据并反馈至数据采集分析服务器； 其中，管理单元和激励发生器通过网络接口连接至数据采集分析服务器，数据采集分析服务器用于根据实时环境数据、测试数据，基于AI模型预判待测存储芯片的故障并优化测试指令参数或存储芯片FTL算法参数，生成动态调控测试指令并下发至管理单元和激励发生器； 所述数据采集分析服务器，包括： 控制模块，用于根据预设温度曲线向管理单元下发动态温控指令； 测试控制逻辑模块，用于向激励发生器下发测试激励参数； 数据采集分析模块，用于接收管理单元上传的环境数据和激励发生器上传的测试数据，进行数据预处理以生成元数据； 深度学习模型，包括CNN模型、Transformer模型及强化学习单元，所述CNN模型用于提取温度与芯片性能关联特征，所述Transformer模型用于分析温度、芯片性能多维度时间序列数据以识别故障模式，所述强化学习单元用于动态优化待测芯片的FTL算法参数或测试指令参数； 激励参数数据包括环境数据和FTL算法参数数据； 所述环境数据包括每一芯片的温度曲线、功耗数据、电压波动； 所述FTL算法参数数据包括Flash擦写时序参数或DDR4时序参数，其中，Flash擦写时序参数包括擦除电压、编程脉冲宽度、擦写次数，DDR4时序参数包括CAS延迟、行预充电时间、行激活时间； 所述测试数据为测试的芯片性能数据和FTL运行相关指标数据，其中，芯片性能数据包括延迟、错误率、吞吐量，FTL运行相关指标数据包括写放大系数、擦写频率、地址重映射次数、映射表更新密度、GC触发时间分布、坏块增长趋势。

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