长鑫存储技术有限公司孙圆圆获国家专利权
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龙图腾网获悉长鑫存储技术有限公司申请的专利内建自测试方法和设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117766007B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211137932.1，技术领域涉及：G11C29/08；该发明授权内建自测试方法和设备是由孙圆圆;王佳设计研发完成，并于2022-09-19向国家知识产权局提交的专利申请。
本内建自测试方法和设备在说明书摘要公布了：本公开提供一种内建自测试方法和设备，包括：获取待写入数据的存储区域的第一初始地址，对所述第一初始地址的至少一位地址进行屏蔽，以激活多个所述存储区域，根据所述第一压缩写地址向对应的所述存储区域中写入测试数据，获取待读出数据的所述存储区域的第二初始地址，对所述第二初始地址的至少一位地址进行屏蔽，以激活多个所述存储区域，根据所述第一压缩读地址对多个所述存储区域对应的所述测试数据进行读取，且在读出过程中对所述测试数据进行压缩处理，根据所述测试数据和预设压缩处理规则计算理想读出数据，比较所述存储器的读出数据和所述理想读出数据，获得测试结果。通过如此设置，提高测试效率。
本发明授权内建自测试方法和设备在权利要求书中公布了：1.一种内建自测试方法，其特征在于，存储器包括多个存储区域，所述方法包括： 获取待写入数据的存储区域的第一初始地址； 对所述第一初始地址的至少一位地址进行屏蔽，以激活多个所述存储区域，记被激活的多个所述存储区域的地址为第一压缩写地址； 根据所述第一压缩写地址向对应的所述存储区域中写入测试数据； 获取待读出数据的所述存储区域的第二初始地址； 对所述第二初始地址的至少一位地址进行屏蔽，以激活多个所述存储区域，记被激活的多个所述存储区域的地址为第一压缩读地址； 根据所述第一压缩读地址对多个所述存储区域对应的所述测试数据进行读取，且在读出过程中对所述测试数据进行压缩处理，以使所述存储器读出的压缩数据位数等于一个所述存储区域读出的未压缩数据的位数； 根据所述测试数据和预设压缩处理规则计算理想读出数据，比较所述存储器的读出数据和所述理想读出数据，获得测试结果。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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