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龙图腾网获悉长鑫存储技术有限公司申请的专利芯片测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116643157B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310625426.5，技术领域涉及：G01R31/319；该发明授权芯片测试方法是由陈亮设计研发完成，并于2023-05-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片测试方法在说明书摘要公布了：本公开提供了一种芯片测试方法，涉及半导体技术领域。该方法包括：针对待测试芯片执行至少一组芯片测试；在每次命令时序测试中，执行如下步骤：在第一目标行和第二目标行写入第一测试写入数据；向待测试芯片依次发送第一激活命令和第一自动预充电读取命令；间隔本次命令时序测试所对应的待调整时长之后，向待测试芯片依次发送第二激活命令和第一读取命令，得到第二目标行的第一测试读取数据；基于第一测试读取数据和第一测试写入数据，确定第二目标行在本次命令时序测试的第一读写测试结果；基于每组芯片测试中多次命令时序测试各自的第一读写测试结果，确定每组芯片测试对应的实际tRTP。根据本公开实施例，能够对芯片自动预充电行为进行准确检测。

本发明授权芯片测试方法在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括： 针对待测试芯片执行至少一组芯片测试，其中，每组芯片测试包括多次命令时序测试，所述每组芯片测试对应于一个预设读取到预充电时间tRTP，每次命令时序测试对应于一个待调整时长，所述每组芯片测试中多次所述命令时序测试各自对应的所述待调整时长依次变化； 其中，在每次所述命令时序测试中，执行如下步骤： 在第一目标行和第二目标行写入相同的第一测试写入数据，所述第一目标行和第二目标行属于所述待测试芯片的同一存储体； 向所述待测试芯片依次发送第一激活命令和第一自动预充电读取命令，以对所述第一目标行执行读取操作； 自所述第一自动预充电读取命令开始、间隔本次命令时序测试所对应的所述待调整时长之后，向所述待测试芯片依次发送第二激活命令和第一读取命令，得到所述第二目标行的第一测试读取数据； 基于所述第一测试读取数据和所述第一测试写入数据，确定所述第二目标行在本次命令时序测试的第一读写测试结果； 基于所述每组芯片测试中多次所述命令时序测试各自的所述第一读写测试结果，确定所述每组芯片测试对应的实际tRTP，包括：针对所述每组芯片测试，在本组芯片测试的多次所述命令时序测试各自对应的所述待调整时长中，确定满足第一预设选择条件的第一基准调整时长；将所述第一基准调整时长确定为所述本组芯片测试对应的所述实际tRTP。

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