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龙图腾网获悉成都善思微科技有限公司申请的专利X射线探测器质量检测方法、系统、存储介质和电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116523836B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310271050.2，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权X射线探测器质量检测方法、系统、存储介质和电子设备是由连玄;巫德财;刘茜茜;罗杰设计研发完成，并于2023-03-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本X射线探测器质量检测方法、系统、存储介质和电子设备在说明书摘要公布了：本发明公开了一种X射线探测器质量检测方法、系统、存储介质和电子设备，所述方法包括：获取利用X射线探测器拍摄得到的原始亮场图，并对所述原始亮场图进行校正，得到校正亮场图；确定所述校正亮场图的目标参数，当所述目标参数超出相应的阈值范围时，判定所述校正亮场图为异常图像，否则，判定所述校正亮场图为正常图像；当所述校正亮场图为异常图像时，判定所述X射线探测器质量异常，否则，判定所述X射线探测器质量正常。本发明通过检测X射线探测器拍摄的X射线图像质量的优劣，实现对X射线探测器的生产质量进行监控，以助于优化X射线探测器的研发并提高X射线探测器的制造良率。

本发明授权X射线探测器质量检测方法、系统、存储介质和电子设备在权利要求书中公布了：1.一种X射线探测器质量检测方法，其特征在于，包括： 获取利用X射线探测器拍摄得到的原始亮场图，并对所述原始亮场图进行校正，得到校正亮场图； 确定所述校正亮场图的目标参数，当所述目标参数超出相应的阈值范围时，判定所述校正亮场图为异常图像，否则，判定所述校正亮场图为正常图像； 当所述校正亮场图为异常图像时，判定所述X射线探测器质量异常，否则，判定所述X射线探测器质量正常； 所述确定所述校正亮场图的目标参数的步骤，包括： 基于预设拆分方式，将所述校正亮场图拆分成多个大小相同的第一亮场图；所述预设拆分方式为：将所述校正亮场图拆分成K个M×N个像素点组成的亮场图；其中，K、M和N均为正整数； 获取并根据任一第一亮场图中的每个像素点的灰度值，得到该第一亮场图对应的灰度值标准差和灰度值信噪比，直至得到每个第一亮场图对应的灰度值标准差和灰度值信噪比； 判断任一第一亮场图的灰度值标准差是否小于第一阈值或该第一亮场图的灰度值信噪比是否大于第二阈值，得到判断结果，直至得到每个第一亮场图的判断结果； 将判断结果为是的第一亮场图确定为目标亮场图，并基于目标亮场图的数量和第一亮场图的数量，确定所述目标参数； 所述目标参数为：目标模糊率或目标合格率； 当所述目标参数为所述目标模糊率时，所述基于目标亮场图的数量和第一亮场图的数量，确定所述目标参数的步骤，包括：基于目标亮场图的数量和第一亮场图的数量之间的比值，确定所述目标模糊率； 当所述目标参数为所述目标合格率时，所述基于目标亮场图的数量和第一亮场图的数量，确定所述目标参数的步骤，包括：基于预设公式、目标亮场图的数量和第一亮场图的数量，确定所述目标合格率；其中，预设公式为：；y为所述目标合格率，为目标亮场图的数量，为第一亮场图的数量； 还包括：根据每个第一亮场图对应的灰度值标准差和灰度值信噪比，构建所述校正亮场图对应的目标区域图；当判定所述X射线探测器质量异常时，根据所述目标区域图中的所述目标亮场图的分布，确定所述X射线探测器的优化方案。

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