买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉华东师范大学申请的专利一种全谱荧光寿命快速测量装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116148232B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310155494.X，技术领域涉及：G01N21/64；该发明授权一种全谱荧光寿命快速测量装置是由张三军;吴光;周黄梅;陈凯;莫易丹设计研发完成，并于2023-02-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种全谱荧光寿命快速测量装置在说明书摘要公布了：本发明提供了一种全谱荧光寿命快速测量装置，旨在解决基于时间相关单光子计数的荧光寿命测量方法存在的因计数率限制导致测量速度慢、难以同时获得多个波长下的荧光信息的问题。该测量装置包括光学系统和探测电路系统。光学系统用于将不同波长的荧光信号进行分光和整形，使其在一维度上波长分开，另一维度上光强均匀分布。探测电路系统用于接收整形后二维分布的荧光信号，进行光子计数，获得激发光信号和荧光信号之间的时间差，实现每个像素单元荧光光子数的累积，获得不同波长下的荧光寿命衰减直方图，最终获得全谱荧光寿命信息。本发明利用基于时域的荧光寿命测量手段，通过荧光光斑分光和整形并结合多通道探测器及信号处理系统，能够实现样品全谱荧光寿命的快速测量。

本发明授权一种全谱荧光寿命快速测量装置在权利要求书中公布了：1.一种全谱荧光寿命快速测量装置，其特征在于，包括光学系统以及探测电路系统， 所述光学系统沿光路依次包括： 准直组件，用于将荧光准直为近似平行的光束； 分光组件，用于将不同波长的荧光在一维方向即X方向上分开； 光学整形组件，用于在另一维方向即Y方向上将光强呈高斯分布的荧光光斑整形为光强均匀分布的光斑即矩形荧光光斑； 所述探测电路系统包括多通道探测器和信号处理系统，并执行如下步骤： 接收所述光学系统处理后的所述矩形荧光光斑，所述矩形荧光光斑在一维方向即X方向上波长分开，在另一维方向即Y方向上光强分布均匀，通过将光信号转换为电信号，在所述多通道探测器的X方向上以及Y方向上的多个像素单元中的每个像素单元上进行光子计数， 获得所述每个像素单元的电脉冲同步信号与荧光信号到达之间的时间差， 根据每个像素单元的光子计数以及对应的每个像素单元的电脉冲同步信号与荧光信号到达之间的时间差，获得每个像素单元的光子数随时间通道的累计直方图， 所述多通道探测器的Y方向上的多个像素单元中的每个像素单元接收同一个波长的荧光，通过并行处理所述Y方向上的光子数累计直方图数据，从而快速获取所述同一个波长下的荧光寿命衰减直方图；所述多通道探测器的X方向上的不同像素单元对应不同荧光波长，从而进一步快速获得全谱荧光寿命衰减直方图即全谱荧光寿命信息。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人华东师范大学，其通讯地址为：200062 上海市普陀区中山北路3663号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。