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龙图腾网获悉福州西德智能科技有限公司申请的专利一种光学测量设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121678575B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610200079.5，技术领域涉及：G01N21/31；该发明授权一种光学测量设备是由王建福设计研发完成，并于2026-02-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光学测量设备在说明书摘要公布了：本发明公开了一种光学测量设备，涉及光学测量技术领域，包括屏蔽层结构，所述屏蔽层结构的下方设置有红外遮光结构，所述红外遮光结构的下方设置有紫外遮光结构，所述紫外遮光结构的下方设置有可见光调节结构，所述可见光调节结构的下方设置有气体介质结构，所述气体介质结构的下方设置有折射测试结构，所述折射测试结构的下方设置有聚光层结构，所述聚光层结构的下方设置有传感器层，所述屏蔽层结构包括屏蔽电磁波的金属罩和以便全谱光源透过的石英窗口，本发明，实现了对全谱光源中特定波段的高纯度提取、灵活的环境模拟以及高精度强度检测，在科研、工业检测等领域具有很高的实用价值。

本发明授权一种光学测量设备在权利要求书中公布了：1.一种光学测量设备，包括屏蔽层结构1，其特征在于：所述屏蔽层结构1的下方设置有红外遮光结构2，所述红外遮光结构2的下方设置有紫外遮光结构3，所述紫外遮光结构3的下方设置有可见光调节结构4，所述可见光调节结构4的下方设置有气体介质结构5，所述气体介质结构5的下方设置有折射测试结构6，所述折射测试结构6的下方设置有聚光层结构7，所述聚光层结构7的下方设置有传感器层8； 所述屏蔽层结构1包括屏蔽电磁波的金属罩101和以便全谱光源透过的石英窗口102； 所述紫外遮光结构3包括紫外框架302，所述紫外框架302的外侧转动连接有紫外调节环301，所述紫外框架302的外侧开设有两处弧形滑槽305，每处所述弧形滑槽305的内侧滑动连接有弧槽滑块304，所述弧槽滑块304远离紫外调节环301的一侧固定连接有内框圈306，所述紫外框架302的顶面固定连接有对接环303，所述紫外调节环301的外表面固定连接有一处短拨条9； 所述气体介质结构5包括介质框架503，所述介质框架503的外壁转动连接有气体窗口调节环501，所述介质框架503的内壁设置有两处内框圈306，两处所述内框圈306的侧面分别固定连接有上透片504和下透片509，所述上透片504和下透片509之间固定连接有中空窗筒505和介质窗口506，所述介质窗口506与上透片504和下透片509之间相连通，所述下透片509的底面固定连接有补气管507，所述补气管507的内部固定连接有单向阀芯508； 所述补气管507远离下透片509一端与气体窗口调节环501固定连接，所述气体窗口调节环501的外表面固定连接有两个长拨条502； 所述折射测试结构6包括折射框架602，所述折射框架602的外壁转动连接有折射调节环601，所述折射调节环601的内部设置有测试片603，所述测试片603的表面开设有折射空窗604，所述测试片603的侧面固定连接有多个不同厚度相同密度的折射镜片605； 所述折射调节环601外表面固定连接有五处短拨条9。

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