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龙图腾网获悉南京理工大学申请的专利基于多级斐索干涉腔的宽波段波长计获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115031858B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210548839.3，技术领域涉及：G01J9/02；该发明授权基于多级斐索干涉腔的宽波段波长计是由李建欣;刘一轩;马世帮;杨坤;郭仁慧;马骏;朱日宏;何勇;王青设计研发完成，并于2022-05-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于多级斐索干涉腔的宽波段波长计在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于多级斐索干涉腔的宽波段波长计，包括沿主光路依次共轴放置的光纤端口、凹面反射镜，沿第一子光路依次共轴放置第一反射镜、Fizeau单级腔、第一柱面镜和第一线阵探测器，以及沿第二子光路依次共轴放置第二反射镜、Fizeau多级腔、第二柱面镜和第二线阵探测器。由光纤端口发出的光经过凹面反射镜后变成平行光，再经过第一反射镜与第二反射镜后分别入射至Fizeau单级腔与Fizeau多级腔中干涉，由干涉腔后底面出射后分别经第一柱面镜与第二柱面镜汇聚能量后成像在第一线阵探测器与第二线阵探测器形成干涉条纹。本发明相比传统波长测量系统，结构更加简单稳定；同时可以通过分区镀膜实现宽波段波长高精度测量。

本发明授权基于多级斐索干涉腔的宽波段波长计在权利要求书中公布了：1.一种基于多级斐索干涉腔的宽波段波长计，其特征在于，所述宽波段波长计包括沿主光路方向依次共轴设置的光纤端口1、凹面反射镜2，沿第一子光路依次共轴设置的第一平面反射镜3、Fizeau单级腔4、第一柱面镜5和第一线阵探测器6，以及沿第二子光路依次共轴设置的第二平面反射镜7、Fizeau多级腔8、第二柱面镜9和第二线阵探测器10；所有光学元件相对于仪器底座平面同轴等高； 光纤端口1发出的光经凹面反射镜2后，以平行光入射至第一平面反射镜3与第二平面反射镜7，在第一子光路中，平行光经第一平面反射镜3反射后入射至Fizeau单级腔4中发生干涉，之后从Fizeau单级腔4后底面出射经第一柱面镜5聚焦至第一线阵探测器6；在第二子光路中，平行光经第二平面反射镜7反射后入射至Fizeau多级腔8中发生干涉，之后从Fizeau多级腔8后底面出射经第二柱面镜9聚焦至第二线阵探测器10； 所述Fizeau单级腔4包括沿第一子光路方向依次设置且胶合的第一基板41、第一空心圆柱42和第一盖板43；所述第一基板41的后底面镀部分反射部分透射膜；第一盖板43的前底面镀部分反射部分透射膜； 所述Fizeau多级腔8包括沿第二子光路方向依次设置且胶合的第二基板81、第二空心圆柱83和第二盖板84，所述第二空心圆柱83内设有阶梯镜82；第二基板81后底面与阶梯镜82前底面相胶合；所述阶梯镜82后底面镀部分反射部分透射膜；第二盖板84的前底面镀部分反射部分透射膜； 所述阶梯镜82包括从上至下依次堆叠的第一阶梯至第四阶梯，每个阶梯的横截面为矩形，该矩形沿光束的截面方向的边为短边，沿光束方向的边为长边，每个阶梯的短边与第二基板81胶合；所述第一阶梯至第四阶梯的宽度相同，第一阶梯至第四阶梯的长度依次增大。

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